Структурная электронография

курсовые рефераты
1 Звезда2 Звезды3 Звезды4 Звезды5 Звезд (Проголосуй первым)
Загрузка...

Структурная электронография

Автор(ы): Вайнштейн Б. К.

18.09.2015
Год изд.: 1956
Описание: Состояние теории и методики электронографического структурного анализа позволяет в настоящее время дать систематическое изложение этого предмета, не затрагивая других применений диффракции электронов. Этой цели и служит предлагаемая вниманию читателя книга. В ней рассмотрены, прежде всего, особенности и возможности электронографии в ряду других диффракционных методов исследования вещества и сформулированы общие положения о связи структуры рассеивающего объекта с диффракционной картиной.
Оглавление:
Структурная электронография скачать без регистрации https://book-com.ru

Предисловие [3]
Глава I. Диффракционные методы анализа структуры вещества [5]
§ 1. Электронография, рентгенография и нейтронография [6]
§ 2. Применения диффракции электронов. Структурная электронография [9]
§ 3. Основные положения теории рассеяния и структурного анализа кристаллов [12]
Амплитуда рассеяния. Обратное пространство [13]
Обратимость преобразования Фурье [15]
Диффракция на кристалле и обратная решетка [16]
Структурная амплитуда и ряды Фурье [20]
Атомная амплитуда [20]
Тепловое движение [21]
Внешняя форма кристалла [23]
Функция межатомных расстояний [25]
Литература к главе I [27]
Глава II. Геометрическая теория электронограмм [28]
§ 1. Основная формула. Типы электронограмм [28]
Типы электронограмм [30]
§ 2. Образование точечных электронограмм [31]
Форма и размер кристаллов [32]
Мозаичность образцов [35]
Сходимость и немонохроматичность начального пучка [30]
Динамическая теория [37]
§ 3. Геометрия точечных электронограмм и определение по ним элементарной ячейки [38]
Симметрия точечных электронограмм [39]
Индицирование точечных электронограмм [41]
Метод вращения [44]
Определение элементарных ячеек по точечным электронограммам [49]
Определение пространственной группы. Особенности некоторых точечных электронограмм [51]
§ 4. Электронограммы от текстур [54]
Геометрический механизм образования электронограмм от текстур [57]
Отображение узла обратной решетки на электронограмме [59]
Эллипсы электронограмм от текстур [62]
Слоевые линии [63]
Осевые прямые электронограмм от текстур [65]
Гиперболы электронограмм от текстур [67]
Отображение на электронограммах от текстур обратной решетки в целом [69]
§ 5. Расшифровка электронограмм от текстур [70]
Определение сетки проекций, периодов а*, Ь* и угла у* [71]
Определение периода с* и углов а* и a* и * [76]
Некоторые приемы расшифровки и индицирования электронограмм от текстур [79]
§ 6. Электронограммы поликристалла [82]
Геометрии снимков от поликристалла. Возможности их использования [83]
Метод шкалы обратных квадратов [85]
Литература к главе II [88]
Глава III. Интенсивности рефлексов электронограмм [89]
§ 1. Общие положения [89]
Волновая функция и интенсивность пучков [89]
Решение уравнения Шредингера для кинематического рассеяния [91]
Об аналогии в рассеянии электронов и рентгеновых лучей [93]
§ 2. Атомное рассеяние [93]
Основная формула [93]
Потенциал атома [95]
Связь атомных факторов рассеяния электронов и рентгеновых лучей [97]
Таблицы атомных факторов fэл [99]
Атомные факторы рассеяния fэл для легких атомов [100]
Атомные факторы рассеяния fэл для средних и тяжелых атомов [100]
Характер хода fэл-кривых в зависимости от атомного номера [103]
Закономерность «обратного хода» для легких атомов [106]
§ 3. Рассеяние электронов на ионах [108]
Потенциал иона [108]
fэл-кривые ионов [108]
О рассеянии при s=0 [111]
§ 4. Температурный фактор [111]
Общие положения [111]
Температурный фактор fT для изотропных колебаний [112]
Температурный фактор в электронографии [113]
§ 5. Структурная амплитуда [114]
Вычисление структурной амплитуды через атомные амплитуды [114]
Учет элементов симметрии кристалла [115]
Единичные амплитуды [116]
§ 6. Интенсивность отражений от идеального монокристалла [117]
Интегральная интенсивность пучка, рассеянного одиночным идеальным монокристаллом [119]
Критерий перехода от кинематического рассеяния к динамическому [120]
О немонохроматичности и расходимости пучка [124]
§ 7. Интенсивность отражений от мозаичной монокристальной пленки [126]
Распределение кристалликов по углам в мозаичной пленке [126]
Общая формула интегральной интенсивности для мозаичной пленки [128]
Случай равномерного распределения кристалликов по углам [130]
Случай неравномерного распределения кристалликов по углам [131]
Явления, сопровождающие переход от кинематического рассеяния к динамическому [134]
§ 8. Интенсивность отражений от монокристальных пленок из крупных блоков [135]
Интенсивность отражения от крупного идеального кристалла [136]
Интегральная интенсивность отражения от мозаичной пленки из крупных идеальных блоков [138]
Интегральная интенсивность отражения от полидисперсной мозаичной пленки [140]
Вторичное отражение [141]
§ 9. Интенсивность отражений от текстурированных пленок [143]
Формула интегральной интенсивности для «прямых текстур» [145]
Формула интегральной интенсивности для «косых текстур» [146]
Локальная интенсивность рефлексов на снимках от текстур [148]
Фактор повторяемости р для электронограмм от текстур [150]
§ 10. Интенсивность отражений от поликристаллических пленок [152]
§ 11. Сводка и обсуждение формул интенсивностей рефлексов электронограмм [154]
§ 12. Об экспериментальных измерениях интенсивности [158]
Литература к главе III [163]
Глава IV. Метод Фурье в электронографии [164]
§ 1. Специфика электронографического структурного анализа [165]
§ 2. Некоторые методы структурного анализа [168]
Метод проб и ошибок [168]
Статистические методы [168]
Прямые методы определения знаков [169]
Алгебраические методы [169]
Метод Фурье-трансформаций [170]
Методы Ф-и Ф2-рядов [170]
§ 3. Ряды Фурье-потенциала и размерности в них [170]
Трехмерные ряды потенциала [170]
Размерность в трехмерных рядах [173]
Двумерные ряды потенциала [175]
Условные (обобщенные) проекции [177]
Поясные проекции [181]
Одномерные ряды [182]
Использование Ф-рядов при анализе структур и принципы их расчета [182]
§ 4. Ф2-ряды [184]
Основные свойства Ф2-рядов [184]
Сечения Харкера [186]
Прямые методы расшифровки Ф2-рядов [187]
§ 5. Интегральные характеристики распределения потенциала в атомах [191]
Вычисление интегральных характеристик через fэлТ-кривые [191]
Метод подсчета характеристик [193]
§ 6. Средний внутренний потенциал кристаллов [196]
§ 7. Нормировка рядов Фурье-потенциала [199]
Нормировка амплитуд известной структуры [199]
Статистический метод Вильсона [200]
Среднее квадратичное значение потенциала кристалла [201]
Пример нормировки [204]
§ 8. Потенциал в центре атома [205]
*(0) как критерий обнаруживаемости атомов [205]
Формулы, определяющие *(0) и *(0) [206]
Сравнение обнаруживаемости атомов в электронографии и в рентгенографии [208]
*(0) легких атомов [209]
§ 9. Точность определения значений потенциала [210]
Волны обрыва и волны ошибок [210]
Средние квадратичные значения * и * [211]
Точность, необходимая для обнаружения легких атомов [212]
Средняя точность определения амплитуд b и «коэффициент достоверности» R [213]
§ 10. Точность определения координат атомов [216]
Основная формула [216]
Интегральные характеристики точности [218]
Формулы точности [223]
Обсуждение формул точности. Сравнение точности определения координат атомов в электронографии и в рентгенографии [228]
Точность определения межатомных расстояний по Ф2-рядам [231]
Определение ошибки координат атомов по совокупности условных проекций [233]
Возможные систематические ошибки. Обрыв рядов в электронографии [235]
§ 11. Некоторые искусственные приемы в использовании рядов Фурье [287]
Разностные ряды [237]
Введение в синтезы расчетных амплитуд [239]
«Обострение» рядов [239]
Метод «расчетной температуры» [240]
О роли метода Фурье в структурном анализе [241]
Литература к главе IV [242]
Глава V. Экспериментальные электронографические структурные исследования [244]
§ 1. Краткие сведения об экспериментальной технике [245]
Электронограф [245]
Приготовление препаратов [248]
§ 2. Определение структуры ВаСl2 * Н20 [249]
Кубическая структура безводного ВаСl2 [249]
Элементарная ячейка и пространственная группа ВаСl2 * Н20 [250]
Установление расположения атомов в проекции [251]
Размещение атомов по высоте. Описание структуры ВаСl2 * Н20 [253]
§ 3. Определение структур гидратов хлоридов переходных металлов [265]
Исследование СоСl2 * 2Н20 [255]
Исследование МпСl2 * 2Н20 [259]
Исследование NiCl2 * 2Н20. Определение элементарной ячейки [200]
Установление размещения атомов в структуре NiCl2 * 2Н20 [261]
Точность определения координат атомов. Некоторые кристаллохимические замечания [266]
§ 4. Электронографические исследования плотноупакованных структур [268]
Плотнейшие шаровые упаковки [268]
Структура одного из нитридов железа [269]
Определение структуры Bi3Se4 [271]
Определение структуры CsNiCl3 [272]
§ 5. Локализация атомов водорода в кристаллических структурах электронографическим методом [274]
Возможности диффракционных методов структурного анализа в изучении атомов водорода в кристаллических решетках [274]
Локализация атомов водорода в структуре дикетопиперазина. Экспериментальные данные [280]
Ряды Фурье потенциала структуры дикетопиперазина [282]
Результаты исследования структуры дикетопиперазина [287]
Уточнение строения группы NH4 в структуре хлористого аммония [291]
§ 6. О возможностях структурной электронографии [294]
Литература к главе V [298]
Приложения [301]
Приложение I. Геометрические соотношения в атомной и обратной решетке [301]
Приложение II. Интеграл Фурье в сферических координатах [303]
Приложение III. Таблицы атомных факторов рассеяния электронов fэл [304]
Предметный указатель [309]

Формат: djvu
Размер: 9488953 байт
Язык: Русский
Скачать: открыть
8
1209878″>



Комментариев нет

Обсуждение закрыто.

Яндекс.Метрика Рейтинг@Mail.ru