Спектроскопия высокой разрешающей силы

Спектроскопия высокой разрешающей силы

Автор(ы): Королев Ф. А.

25.05.2010
Год изд.: 1953
Описание: В предлагаемой монографии освещена теория и практика спектроскопии высокой разрешающей силы. При изложении теоретических вопросов автор базируется на развитой им теории, полностью учитывающей явления дифракции в интерференционных приборах. В книге дается теория ступенчатой решетки, плоско-параллельных пластинок, сложных интерферометров и их применения. Освещены вопросы ширины спектральных линий, а также вопросы, связанные с теорией и практикой источников света для спектроскопии высокой разрешающей силы. Кратко обрисованы основные области применения. Книга предназначается для научных работников, аспирантов и студентов старших курсов физических факультетов университетов.
Оглавление:
Спектроскопия высокой разрешающей силы скачать без регистрации https://book-com.ru

Предисловие [7]
РАЗДЕЛ I. СПЕКТРОСКОПЫ ВЫСОКОЙ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СИЛЫ
Глава I. Ступенчатая решетка (эшелон Майкельсона) [11]
§ 1. Введение [11]
§ 2. Разность хода между интерферирующими лучами у ступенчатой решетки [16]
§ 3. Распределение интенсивности в спектре ступенчатой решетки [17]
§ 4. Дисперсия и область дисперсии [21]
§ 5. Монохроматическая ширина, предел разрешения и разрешающая сила ступенчатой решетки [27]
§ 6. Различие между ступенчатой решеткой и плоско-параллельной пластинкой [33]
§ 7. Отражательные ступенчатые решетки (отражательные эшелоны) [39]
§ 8. Методы работы со ступенчатой решеткой [44]
§ 9. Недостатки ступенчатых решеток [48]
§ 10. Расчет разностей длин волн (волновых чисел) при работе со ступенчатыми решетками [50]
Глава II. Плоско-параллельные пластинки с боковым входом света [52]
§ 11. Типы плоско-параллельных пластинок [52]
§ 12. Распределение интенсивности у плоско-параллельных воздушных пластинок с боковым входом света при параллельном падающем пучке света [57]
§ 13. Распределение интенсивности у воздушных плоско-параллельных пластинок с боковым входом света при наличии в падающем свете пучков всевозможных направлений [68]
§ 14. Пластинка Люммера-Герке. Общность теории для воздушных и стеклянных пластинок. Учет поглощения в стекле [70]
§ 15. Дисперсия и область дисперсии пластинки Люммера-Герке [74]
$ 16. Монохроматическая ширина, предел разрешения и разрешающая сила пластинки Люммера-Герке [77]
§ 17. Методы работы с пластинками. Скрещенные пластинки [84]
§ 18. Недостатки пластинок Люммера-Герке [88]
Глава III. Плоско-параллельные пластинки Фабри-Перо [91]
§ 19. Типы пластинок Фабри-Перо [91]
§ 20. Распределение интенсивности [94]
§ 21. Зависимость интенсивности света в проходящем свете от оптических свойств зеркальных слоев и прозрачной среды между ними [102]
§ 22. Дисперсия и область дисперсии [111]
§ 23. Монохроматическая ширина, предел разрешения и разрешающая сила. Влияние диафрагмирования входного отверстия на разрешающую силу [114]
§ 24. Влияние точности изготовления зеркал на разрешающую силу [119]
§ 25. Сложный интерферометр (мультиплекс) [122]
§ 26. Методы работы с пластинками Фабри-Перо. Юстировка пластинок [129]
§ 27. Метод расчета разностей длин волн [131]
§ 28. Преимущества и недостатки пластинок Фабри-Перо [133]
РАЗДЕЛ II ИСТОЧНИКИ СВЕТА ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЙ СО СПЕКТРОСКОПАМИ ВЫСОКОЙ РАЗРЕШАЮЩЕЙ СИЛЫ. ОБЛАСТИ ПРИМЕНЕНИЯ
Глава IV. Ширина спектральных линий [135]
§ 29. Общие замечания [135]
§ 30. Расширение спектральных линий вследствие затухания колебаний дипольного момента атома [138]
§ 31. Квантовая теория естественной ширины спектральных линий [146]
§ 32. Ширина спектральных линий, обусловленная затуханием при соударениях [151]
§ 33. Соударения одинаковых атомов [154]
§ 34. Теория Власова и Фурсова для ширины спектральных линий однородного газа [157]
§ 35. Столкновения с электронами и нонами [159]
§ 36. Столкновения с фотонами [165]
§ 37. Расширение спектральных линий, обусловленное эффектом Допплера [167]
§ 38. Совместное действие соударений и эффекта Допплера [170]
§ 39. Влияние самообращения на ширину спектральных линий [171]
Глава V. Источники света для исследований со спектроскопами высокой разрешающей силы [176]
§ 40. Общие замечания [176]
§ 41. Трубки с тлеющим электрическим разрядом (газосветные трубки) [178]
§ 42. Разрядные трубки с полым катодом [185]
§ 43. Источники света с высокочастотным газовым разрядом [191]
§ 44. Источники света с дуговым разрядом в вакууме [199]
§ 45. Источники света с атомными пучками [202]
§ 46. Методы испарения металлов и методы возбуждения спектра в атомных пучках [209]
§ 47. Устройства для получения атомных пучков с трудносжижаемыми газами [213]
§ 48. Приборы для исследований по методу поглощения [214]
Глава VI. Области применения спектроскопов высокой разрешающей силы [218]
§ 49. Общие замечания [218]
§ 50. Исследование узких мультиплетов и атомных спектрах [220]
§ 51. Сверхтонкая структура спектральных линий и измерение механических и магнитных моментов атомных ядер [223]
§ 52. Исследование свойств атомного ядра но изотопическому сдвигу спектральных линий [227]
§ 53. Исследование сдвига энергетических уровней атомов и ионов благодаря электромагнитным эффектам «вакуума» [230]
§ 54. Исследование влияния внешних электрических полей на тонкую структуру спектральных линий [233]
§ 55. Исследование распределения интенсивности света в спектральных линиях [234]
§ 56. Тонкая структура спектров рассеяния [234]
ПРИЛОЖЕНИЯ
Приложение 1. Дифракция Фраунгофера на прямоугольном и круглом отверстии [236]
Приложение 2. Изготовление полупрозрачных зеркал для интерферометров Фабри-Перо методом испарения и вакууме [258]
Приложение 3. Разрешение линий неравной интенсивности эталоном Фабри-Перо [265]
Приложение 4. Фактор контрастности эталона Фабри-Перо [269]
Приложение 5. Многослойные диэлектрические пленки в качестве зеркал для эталонов Фабри-Перо [271]
Приложение 6. Методы регистрации интерференционной картины и обработки интерферограмм [273]
Литература [276]

Формат: djvu
Размер: 5090177 байт
Язык: Русский
Скачать: открыть
11
737491″>



Яндекс.Метрика Рейтинг@Mail.ru